技术指标

充Xe正比探测器:最大计数率,1,000,000cps;半导体阵列探测器:最大计数率,>4,000,000cps;角度重现性,+/-0.0001度。

用途及测试范围

主要用于多晶材料物相分析

仪器联系人

姓名: 艾艳玲 联系方式: 15109281456
姓名: 学生操作员 联系方式: 15333099166

收费标准

收费标准 按样(元/个) 计时(元/小时)
校外价格 校内价格 院系价格 校外价格 校内价格 院系价格
高温测试,微区测试,应力测试 500.0 500.0 500.0
备注
常规测试 400.0 400.0 400.0
备注
薄膜掠射 400.0 400.0 400.0
备注
仪器预约须知

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